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盧瑟福實驗：α粒子轟擊金箔現(xiàn)象1；大多數(shù)α粒子能穿透金箔而不改變原來運動方向.現(xiàn)象2；一小部分α粒子改變原來的運動方向現(xiàn)象3；少數(shù)α粒子被彈了回來請你根據(jù)原子結(jié)構(gòu)認(rèn)識,分析以上現(xiàn)象原因.是三個空,只夠?qū)懭湓挼?=1.大多數(shù)α粒子沒有受到很大的外力作用,即其運行軌跡上沒有遇到帶電的、質(zhì)量相對大的物質(zhì),是因為原子的正電荷和質(zhì)量大部分集中在原子內(nèi)部很小的一個點上；2.因為這一小部分α粒子受到了較強的電荷的作用力,原因是其運動軌跡距離原子核較近,受到的斥力較大；3.原因是正電荷與正電荷的排斥作用,這極少數(shù)α粒子的軌道經(jīng)過原子核,而且原子核體積占原子很小的一部分,所以反彈的粒子數(shù)量也極少.簡單點的話,就是1.α粒子通過原子內(nèi)（或原子間）的空隙2.α粒子經(jīng)過金原子核附近受斥力的作用3.α粒子撞擊金原子核被彈回。重帶子粒子一般是指比電子質(zhì)量大得多的那些帶電粒子。自貢大面積表面污染儀

α粒子為帶電的重粒子，所以探測這種粒子的常見探測器有：1.柵網(wǎng)電離室測量的立體角為2π，適合于大面積樣品的測量，特別是弱放射性α樣品測量；但裝置較復(fù)雜、成本高。2.正比計數(shù)器這種探測器結(jié)構(gòu)簡單、使用方便，但能量分辨比電離室差。3.閃爍探測器所用的閃爍體一般選用ZnS(Ag)晶體，也可用玻璃閃爍體。4.半導(dǎo)體探測器半導(dǎo)體α探測器目前所配用的探測器多為AuSi面壘和SiPIP，以及Si(Li)探測器。之所以得到廣泛應(yīng)用是因它有很高的能量分辨率，對5MeV的α粒子，可小于，而閃爍譜儀為≥3%(對150keV)。對面壘型半導(dǎo)體α譜儀重要的是選擇比較好的工作電壓，因為電壓太低會使載流子速度變慢，導(dǎo)致能量分辨變差；電壓太高，會增大噪聲也使能量分辨變差。比較好的工作電壓要由實驗來確定。5.固體徑跡探測器使用云母、塑料等一類材料，當(dāng)α粒子打在這類材料上時，沿路徑會產(chǎn)生損傷，經(jīng)過化學(xué)處理后，這些損傷擴大成可在顯微鏡下觀測的空洞；通過測量這些空調(diào)達到探測α粒子的目的。自貢大面積表面污染儀徑跡探測器是直接記錄粒子走過徑跡圖像的探測器。

主要由閃爍體、光的收集部件和光電轉(zhuǎn)換器件組成的輻射探測器。當(dāng)粒子進入閃爍體時，閃爍體的原子或分子受激而產(chǎn)生熒光。利用光導(dǎo)和反射體等光的收集部件使熒光盡量多地射到光電轉(zhuǎn)換器件的光敏層上并打出光電子。這些光電子可直接或經(jīng)過倍增后，由輸出級收集而形成電脈沖。早在1903年就有人發(fā)現(xiàn)α粒子照射在硫化鋅粉末上可產(chǎn)生熒光的現(xiàn)象。但是，直到1947年，將光電倍增管與閃爍體結(jié)合起來后才制成現(xiàn)代的閃爍探測器。很多物質(zhì)都可以在粒子入射后而受激發(fā)光，因此閃爍體的種類很多,可以是固體、液體或氣體。通常,按化學(xué)性質(zhì)可分為無機閃爍體和有機閃爍體兩大類。無機閃爍體固體的無機閃爍體一般是指含有少量混合物（***劑）的無機鹽晶體。雖然用純無機鹽晶體也可作為閃爍體，但加了***劑后能明顯提高發(fā)光效率。當(dāng)閃爍體中原子的軌道電子從入射粒子接受大于其禁帶寬度的能量時,便被激發(fā)躍遷至導(dǎo)帶。然后,再經(jīng)過一系列物理過程回到基態(tài)，根據(jù)退激的機制不同而發(fā)射出衰落時間很短的熒光（約10納秒）或是較長的磷光（約1納秒或更長）。**常用的無機晶體是用鉈***的碘化鈉晶體，即碘化鈉（鉈），比較大可做到直徑500毫米以上。它有很高的發(fā)光效率和對γ射線的探測效率。

放射性αβ表面污染儀檢定規(guī)程

范圍：本規(guī)程適用于α、β表面污染儀的***檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查，包括α表面污染測量儀與監(jiān)測儀，β表面污染測量儀與監(jiān)測儀，以及α/β表面污染測量儀和監(jiān)測儀。

本規(guī)程不適用于固定式α、β個人表面污染測量監(jiān)測裝置以及比較大能量小于60keV的β粒子測量或監(jiān)測儀器的檢定。

引用文件：本規(guī)程引用下列文件：

JJF 1001-2011 通用計量術(shù)語及定義

GB/T4960.1-2010 核科學(xué)技術(shù)術(shù)語 第1部分：核物理與核化學(xué)

GB/T 4960.6-2008 核科學(xué)技術(shù)術(shù)語 第6部分：核儀器儀表

GB/T 5202-2008 輻射防護儀器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染測量儀與監(jiān)測儀 正比計數(shù)管是工作在氣體放電正比區(qū)的輻射探測器。

閃爍體單次激發(fā)后，發(fā)射光子的速率下降到初始值的1/e所需的時間為τ（e=2.718…），λ=1/τ稱為閃爍衰減常數(shù)。對于有機閃爍體τ=10-8至10-9s，無機閃爍體τ=10-5至10-7s，一般認(rèn)為閃爍體的閃爍衰減用**函數(shù)來描述，對于有兩個以上衰減成分組成的閃爍體，常給出平均衰減時間。閃爍衰減不僅與閃爍體種類有關(guān)，還與***劑、閃爍物質(zhì)、移波劑的性質(zhì)與含量、激發(fā)閃爍的方式（輻射種類）及閃爍體的溫度有關(guān)。閃爍體受單次激發(fā)后，其光子發(fā)射率由比較大值10%上升到90%所需的時間，稱為閃爍上升時間，而其光子發(fā)射率由比較大值的90%下降到10%所需的時間，稱為閃爍下降時間。能量分辨率是說明對能量相近的入射γ射線的能量分辨本領(lǐng)的量。自貢大面積表面污染儀

檢測放射性的儀器如何保養(yǎng)？自貢大面積表面污染儀

β和γ射線束通過吸收體后被減弱的程度可用下式表示:式中I0、I分別為射線束通過吸收體前后的強度值,ρ和d為吸收體的密度和厚度值,μm為吸收體對該射線束的質(zhì)量吸收系數(shù)。測得射線束強度變化，即可由上式確定吸收體的厚度或密度。其應(yīng)用有透射式同位素密度計、厚度計和料位計等。射線可使感光膠片感光，根據(jù)透過吸收體的射線使感光膠片的感光情況顯示，可以進行射線照相探傷。散射β射線、γ射線與物質(zhì)相互作用會產(chǎn)生散射，其散射角甚至可大于90°，散射的程度與散射體的厚度、密度及原子序數(shù)有關(guān)。根據(jù)這一效應(yīng)建立的反散射測量儀，可用于測定材料的厚度和密度，特別適用于涂層厚度的測量。快中子與輕元素碰撞，能量迅速降低，待分析材料中如含氫豐富，中子慢化程度就高。根據(jù)此原理建立了中子測水分和中子測井(石油)技術(shù)?；罨湍堞铝Ｗ优c適當(dāng)?shù)牧坠怏w作用可以發(fā)光，根據(jù)這種效應(yīng)已經(jīng)制成了氚發(fā)光粉和氚燈。低能光子可以激發(fā)元素發(fā)射特征X射線,利用配有同位素低能光子源的X射線熒光分析儀可進行元素分析。放射性核素發(fā)射的α粒子和高能γ射線，可誘發(fā)輕元素原子核發(fā)生(α,n)、(γ,n)核反應(yīng)。利用這些核反應(yīng)制成的中子源可用于元素的中子活化分析。自貢大面積表面污染儀

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